1.被測樣品的準備

　　被測樣品要求為園形，直徑25.4～27mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1～5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會(huì )下降，樣品要盡可能平直。

　　下面推薦一種能提高測試性的方法：準備二片厚0.05mm的園形錫膜，直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著(zhù)作用，又能排除接觸面之間殘余空氣，把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳，然后放上被測樣品。

　　2. 測試順序

　　先要詳細了解配用儀器的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應的影響。

　　a.把配用的儀器主調諧電容置于zui小電容量，微調電容置于－3pF。

　　b.把本夾具測試裝置插到儀器測試回路的“電容”兩個(gè)端子上，即插入到儀器上方接線(xiàn)銅柱的右邊兩個(gè)圓柱內。

　　c.配上相適應的高Q值電感線(xiàn)圈，選擇電感沒(méi)有特別的方法，只有試或憑經(jīng)驗來(lái)選擇合適的那個(gè)，一般選擇使高頻儀器顯示Q值zui大的電感zui為合適。

　　注：以上步驟是為了使高頻儀器工作起來(lái)（儀器是LC諧振工作原理，所以要選擇合適的電感才能使儀器諧振）

　　d.調節平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為DO。

　　e.再松開(kāi)二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時(shí)要用測微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取新的刻度值，記為D1，這時(shí)樣品厚度D2= D1－D0。

　　注：以上d和e兩步是測出被測樣片的厚度，方便后面計算介電常數時(shí)用。

　　f.把園筒電容器置于7mm處（該值不是的，我們一般在測的時(shí)候放到7mm處就可以測了，不過(guò)有的時(shí)候在做到h步0驟時(shí)順時(shí)針旋轉完刻度了Q值還沒(méi)有達到一半，這時(shí)就要適當的把7mm刻度調整到9mm或更大了）。

　　g.改變配合儀器頻率，使之諧振，讀得Q值。（如果測試材料樣片有“要求的測試頻率”，那么就先把頻率定位到該頻率，然后再調節儀器的主調電容，使儀器諧振（即儀器的Q值顯示為zui大）；如果不知道在頻率下測試的話(huà)，我們一般把頻率放在1MHz下來(lái)調試，然后再調節主調電容使儀器工作）。

　　h.先順時(shí)針?lè )较?，后逆時(shí)針?lè )较?，調節園筒電容器，讀取當儀器指示Q值為原值的一半時(shí)測微桿上二個(gè)刻度值，取這二個(gè)值之差，記為M1。（先記下園筒電容在7mm時(shí)儀器諧振時(shí)的zui大Q值，即d步驟測得的Q值；然后調節園筒電容器，看儀器的Q值顯示為原來(lái)的一半時(shí)，讀取園筒電容器上邊的刻度為多少，要順時(shí)針和逆時(shí)針旋轉兩次取兩個(gè)刻度值；如果園筒電容器順時(shí)針轉到0刻度時(shí)Q值還沒(méi)有到一半，那么就要返回到第f步驟把園筒電容器置于9mm處或更大，重新操作）。

　　i.再調節園筒電容器，使儀器再次諧振（即把園筒電容器調回到7mm處）。

　　j.取出平板電容器中的樣品，這時(shí)儀器又失諧，調節平

　　板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為

　　D4= D3－D0。

　　k.和h款操作一樣，得到新的二個(gè)值之差，記為M2。

　　3.  計算測試結果

　　被測樣品的介電常數：

　　Σ＝D2 / D4

　　被測樣品的損耗角正切值：

　　tgδ＝K（M1－M2 ）/ 15.5

　　式中：K為園筒電容器線(xiàn)性變化率，一般為0.33。

　　4.  其他應用使用方法

　　使用本測試裝置和儀器配用，對絕緣材料以及其他高阻性能的薄材，列如：紙張、木材、粉壓片料等，進(jìn)行相對測量，其測試方法就非常簡(jiǎn)便、實(shí)用，采取被測樣品和標準樣品相比較方法，就能靈敏地區別二者之間的輕微差別，例如含水量、配用原料變動(dòng)等等。

　　測試時(shí)先把標準樣品放入平板電容器，調節儀器頻率，諧振后讀得Q值，再換上被測樣品，調節園筒電位器，再諧振，看Q值變化，如Q值變化很小，說(shuō)明標準樣品和被測樣品高頻損耗值一致，反之說(shuō)明二者性能有區別，如園筒電容器調節不能再諧振，通過(guò)調節儀器頻率才能諧振，且頻率變化較大，說(shuō)明被測樣品和標準樣品的配用原材料相差較大。