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  • 粉末材料電阻率測試儀
    粉末材料電阻率測試儀 粉末材料電阻率測試儀是運用四端子法或四探針?lè )y試粉末電阻率的測量?jì)x器,該儀器采用通用的電流、電壓四端子測量法(儀器電流源和電壓表兩個(gè)單元分別從獨立回路連至電極同時(shí)和樣品接觸),可以消除電極與連接導線(xiàn)導...
  • 壓電材料測試儀(靜壓電系數d33測量?jì)x)
    壓電材料測試儀(靜壓電系數d33測量?jì)x) ZJ-3壓電材料測試儀(靜壓電系數d33測量?jì)x)是為測量壓電材料的d33常數而設計的儀器,它可用來(lái)測量具有大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。
  • TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀
    TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀 TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀,即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測量,也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量,是研究薄膜材...
  • 新D33測試儀兼容搭載D33空間夾具
    新D33測試儀兼容搭載D33空間夾具 ZJ-3型壓電測試儀(準靜態(tài)d33測量?jì)x)、PVDF壓電薄膜測試儀,D33系數共面夾具,D33系數空間夾具關(guān)鍵詞:壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15,共面夾具,空間夾具
  • HTIM-1001A高溫電阻測試儀
    HTIM-1001A高溫電阻測試儀 HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進(jìn)行評估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重...
  • 高溫電阻測試儀I電阻率I電阻三合一
    高溫電阻測試儀I電阻率I電阻三合一 HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進(jìn)行評估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重...
  • 常用的壓電材料及D33測試儀(PZT/PVDF)
    常用的壓電材料及D33測試儀(PZT/PVDF) 常用的壓電材料及D33測試儀(PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF)常用的壓電材料及測試儀器有以下幾種(PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF):1.鉛鋯鈦酸鋇(PZT):PZT是常用的...
  • BKTEM-DX型熱電性能測試平臺
    BKTEM-DX型熱電性能測試平臺 BKTEM-DX型熱電性能測試平臺是一種用于熱電器件(TEGs)溫度相關(guān)轉換效率評估的測量系統。該模塊位于熱板和冷板之間,其中熱板連接到可調節加熱器,冷板連接到恒溫控制的液冷散熱器。通過(guò)集成的電機自動(dòng)...
  • PVDF/聚合物、(TRFE)薄膜電暈極化裝置
    PVDF/聚合物、(TRFE)薄膜電暈極化裝置 PZT-JH30/1壓電復合極化裝置主要用于30KV以下壓電陶瓷或PVDF等薄壓電材料的極化處理,廣泛應用于高校及從事壓電材料研究或生產(chǎn)的科研及生產(chǎn)單位,可以直接放置在實(shí)驗桌上進(jìn)行操作,方便安全。
  • ****航天大學(xué)高分子壓電薄膜中試線(xiàn)方案
    ****航天大學(xué)高分子壓電薄膜中試線(xiàn)方案 PVDF-600型連續式壓電薄膜極化裝置是一款生產(chǎn)型極化裝置主要用于PVDF壓電薄膜的極化處理,該設備采用先進(jìn)電極,的處理工藝,可以快速均勻的處理PVDF成批生產(chǎn)極化。是從事壓電PVDF薄膜的批量連續...
  • 新增高分子,d33,d15,D15圓管,薄膜拉伸
    新增高分子,d33,d15,D15圓管,薄膜拉伸 ZJ-3型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量?jì)x)是為測量壓電材料的d33常數而設計的專(zhuān)用儀器,它可用來(lái)測量具有大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。此外,也可測量任意取向壓電單晶以...
  • PEA-100型電聲脈沖法測試系統
    PEA-100型電聲脈沖法測試系統 PEA-100型電聲脈沖法測試系統用途:使用聲學(xué)技術(shù)的空間電荷測量已成為研究固體材料介電性能的常用方法。脈沖電聲(PEA)方法已用于各種工業(yè)應用。例如用于離子導電材料的評估,高壓絕緣材料評估,材料的內...
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