BKZEM-3電阻率/溫差電動(dòng)勢測試系統

關(guān)鍵詞：塞貝克系數，半導體，熱電材料

BKZEM-3電阻率/溫差電動(dòng)勢測試系統可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

熱力發(fā)電是一種通過(guò)熱電效應材料產(chǎn)生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物理學(xué)家在1821年發(fā)現的。面對當前的全球由二氧化碳排放以及化學(xué)材料消耗而導致的溫室效應，熱電轉變器件引起了注意，因為可以有效利用余熱。為了迎合這種急迫的需求公司為這些材料和器件開(kāi)發(fā)了特性評估裝置。

+  擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

+  測量是由計算機控制的，并且能夠在的溫度下執行測量，并允許自動(dòng)測量消除背底電動(dòng)勢；

+  歐姆接觸自動(dòng)檢測功能（V-I圖）；

+  可以用適配器來(lái)測量薄膜；

+  可定制高阻型。

測試原理：

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過(guò)下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時(shí)將樣品加熱并保持在規定的溫度。塞貝克系數的測量是通過(guò)測量壓在樣品側面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側的同一股線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢dE來(lái)確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過(guò)在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線(xiàn)之間的電壓降dV，并去除引線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢來(lái)確定。

電阻測量系統可實(shí)現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點(diǎn)，塞貝克系數（seebeck）和電阻都可以用一種儀器來(lái)測量。該系統可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

主要技術(shù)參數：

溫度范圍：  室溫-600℃，800℃ ，1000℃多種范圍可選擇

溫度設定范圍:測溫步數和溫度采樣測量步數：最大125步

測量方法 :溫差電動(dòng)勢：靜態(tài)直流法

電阻率：四電極法

氣氛: 氬氣或氮氣

樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長(cháng)6~22 mm（最大）

導線(xiàn)間距:4，6，8 mm

電源供應:200 VAC，單相，40 A（M8，M10規格）

100 VAC，單相，20 A（L規格，M8和M10規格）

冷卻水需求:自來(lái)水,水壓大于1.5 kgf/cm²,流量大于7 L/min

樣品溫差：MAX.50℃ 

測量方式：電腦全自動(dòng)測量