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詳細介紹
GWJD-1000型高溫介電性能測量系統（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）
GWJD-1000型高溫介電性能測量系統（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）
關(guān)鍵詞：高溫介電測試溫譜儀、高溫介電性能測量系統、高溫介溫譜能系統
產(chǎn)品介紹：
GWJD-1000型高溫介電性能測量系統主要應用于高溫下材料的介電性能測
試與分析，包括介電常數、介電損耗、電容等參數，同時(shí)測試出測試材料的其
他阻抗參數，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。
一、產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好.
2.四通道測試,可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品，方便快捷
3.數據分析軟件:提供多種掃描曲線(xiàn),可以在多窗口之間切換數據
二、《符合ASTMD150和 D2149-97標準>>
<<符合GB/T1409-2006介電常數和介電損耗的推薦方法;》
三、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能；
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能;
3.可以測量樣品的介電常數、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數Q，阻抗Z等物理量;以實(shí)現介電常數和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線(xiàn)，時(shí)間和電壓變化的曲線(xiàn)；
4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿(mǎn)足不同測試要求。
主要技術(shù)指標：
測量溫度： 室溫-1000°C | 升溫斜率：2°C /min |
頻率范圍：20-30MHZ | 精度：0.05% |
測量精度： ±0.1°C | 控溫精度：±1°C（PID精準控溫） |
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法：兩線(xiàn)法或四線(xiàn)法 |
測試通道數：1-4通道 | 一次可測樣品數：1-4個(gè)樣品 |
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸 | 測量精度：0.05% |
AC電平： 0V 到 1V rms | 直流偏壓：0到±40V/100mA |
數據存儲：EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式：電阻絲加熱 |
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓 | 電極材料：鉑金 |
數據傳輸：4個(gè)USB接口 | 儀器通訊：USB或GPIB |
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