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GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統
材料分析夾具及配備分析軟件
關(guān)鍵詞:阻抗分析,壓電陶瓷,
GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統是國內符合LXI標準的新一代高溫壓電阻抗測試儀器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的頻率范圍可以滿(mǎn)足元件與材料絕大部分低壓參數的測量要求,可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統產(chǎn)品超高速的測試速度使其特別適用于自動(dòng)生產(chǎn)線(xiàn)的點(diǎn)檢機,壓電器件的頻率響應曲線(xiàn)分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個(gè)電感變壓器廠(chǎng)家的不同標準需求。
GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統產(chǎn)品以其的性能可以實(shí)現商業(yè)標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。 目前該阻抗分析在全國各大學(xué)校和科研院所中廣泛使用。
一、常溫下可測量產(chǎn)品廣泛應用范圍:
1. 無(wú)源元件:傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器電,壓電器件,芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數分析和性能分析
2. 半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
3. 其他元件:印制電路板,繼電器,開(kāi)關(guān),電纜,電池等的阻抗評估
4. 介質(zhì)材料:塑料,陶瓷和其他材料的介電常數和損耗角評估
5. 磁性材料:鐵氧體,非晶體和其他磁性材料
6. 半導體材料:半導體材料的介電常數,電導率和C-V特性
7. .液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常熟等C-V特性
三、高溫主要測量參數:
1、測量以下參數隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律:
2、測量電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、電導(G)、電納(B)、導納(Y)、損耗因子(D)、品質(zhì)因素(Q)等參數,
3、同時(shí)計算獲得反應材料導電、介電性能的復介電常數(εr)和介質(zhì)損耗(D)參數。
二、主要技術(shù)參數:
1.測試頻率:20HZ-10MHZ(特殊可以定制)
2. 測試電平:10mV~5V±(10%+10mV)
3.溫度范圍:-80℃-600℃(可選)
2、測溫精度 0.1℃
3、升溫速度 1—20。C/min3.
4. 測試參數:C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,
5.控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式
6. 基本準確度: 0.1%
7.電極材質(zhì): 鉑銥合金
8.軟件功能:自動(dòng)分析數據,可以分類(lèi)保存,樣品和測量方案結合在一起,生成系統所需的實(shí)驗方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
9. 顯示器: 350×260點(diǎn)陣圖形LCD液晶顯示
10. 可測量22種阻抗參數組合
11. 接口方式: RS232C或HANDLER
12. 電壓:AC-220V
13. 體積:高80mm*寬205mm*長(cháng)230mm
14. 重量:3.5KG
15、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm
16、凈 重: 22KG