JKTD-1000型鐵電材料特性測試系統

關(guān)鍵詞：電滯回線(xiàn)，蝴蝶曲線(xiàn)，疲勞，脈沖

1.系統簡(jiǎn)介：

鐵電體具有介電壓電、熱釋電、鐵電性質(zhì)以及與之相關(guān)的電致伸縮性質(zhì)非線(xiàn)性光學(xué)性質(zhì)、電光性質(zhì)、聲光性質(zhì)、光折變性質(zhì)、鐵電記憶存儲性能等等，都與其電極化性質(zhì)相關(guān)，特別是電介質(zhì)的熱釋電與鐵電性質(zhì)都與其白發(fā)極化相關(guān)，由于鐵電體具有上述性質(zhì)，因而在諸多高技術(shù)中有著(zhù)很重要的應用利用其壓電性能可制作電聲換能器，用于超聲波探測，聲納，穩頻振諧器，聲表面波器件等；利用其熱釋電性質(zhì)可制作紅外探測器,紅外監視器,熱成像系統等利用線(xiàn)性光學(xué)效應可制作激光倍頻、三倍額和頻；差頻器：利用電光性可制作激光電光開(kāi)關(guān)，光偏轉器，光調器等：利用聲光效應可制作激光聲光開(kāi)關(guān)，聲光偏轉器、聲光調制器等：利用光折變效應可制作光存儲器件；鐵電材料的鐵電性可制作鐵電記憶存器。

本測試系統用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗中的固體物理實(shí)驗以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測中，本測試系統主要由信號源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計算機通訊接口、計算機和應用軟件等部分組成。

模式測量電路，與傳統的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節,比較容易定標和校準，且能實(shí)現較高的測量準確度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線(xiàn)還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數，以及對鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測試，能夠較全面確地測量鐵電薄膜的鐵電性能，儀器采儀器采用一體化設計，實(shí)現測試結果全數字化，操作簡(jiǎn)單方便。

一、產(chǎn)品主要用途：

1、可廣泛應用于薄膜、厚膜的鐵電材料性能測試和研究

2、可廣泛應用于塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲器等鐵電材料領(lǐng)域的研究。

二、測試主要技術(shù)參數：

1、電滯回線(xiàn)（包含飽和極化，剩余極化，漏電流等參數）

2、鐵電材料疲勞測試，保持性能測試等

3、鐵電材料脈沖測試, 印跡等參數

4、應變/位移曲線(xiàn)（蝴蝶曲線(xiàn)）

三、主要技術(shù)指標

1)        輸出信號電壓：±10000V

2)        施加頻率：1Hz到1000Hz

3)        波形：正弦波、三角波、方波

4)        USB示波器：4CH；70MHz

5)        絕緣電阻/漏電流測量：10TΩ/1pA,1000V

6)        電滯回線(xiàn)測試變溫范圍：RT~200℃

7)        變溫測量控制單元：精度0.1℃；功率：500W；接口：RS485

8)        測試采樣速度：<5秒/樣品•溫度點(diǎn)  

9)        樣品規格：陶瓷塊體：Φ10-100mm，厚度0.1~10mm

             薄膜樣品：Φ10-100mm，厚度1~100μm

10)    控制方式：計算機實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數據計算

11)    數據采集分析軟件：

a)        運行環(huán)境 windows 7；

b)        測量時(shí)實(shí)時(shí)顯示采集到的電滯回線(xiàn)，可定量得到鐵電材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數；可以進(jìn)行鐵電材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試，可選擇測量模式、掃描電場(chǎng)的幅值等；

c)        依據位移回歸法繪制樣品D33應變/位移曲線(xiàn)（蝴蝶曲線(xiàn)）

d)        測量結果可以保存為數據文件供Origin等數據處理軟件調用處理，也可保存和打印微機屏幕顯示結果界面；

e)        具有數據平滑化、電滯回線(xiàn)校正等數據處理功能。

                                                      電滯回線(xiàn)（一）