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2024-08-27訪(fǎng)問(wèn)量
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品牌 | ACE/美國 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
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應用領(lǐng)域 | 能源,電子,冶金,航天,電氣 |
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀
關(guān)鍵詞:阻抗,高溫,導納圖,掃描,50MHZ
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀,是一款能夠應用于*材料測試的多功能復合型精密阻抗分析儀,該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具,可以測試粉末,液體,塊體等多種不同類(lèi)型的樣品。常溫下測試數據豐富,高溫下測試數據穩定,無(wú)漂移。是一款兼顧中頻率的精密阻抗分析儀。在陶瓷及*材料生產(chǎn)中和科研院校廣泛使用。
一、主要應用:
1、*材料測試:高溫及常溫介電常數、彈性常數等C-V特性
2、高溫及常溫無(wú)源元件測試:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。
3、高溫及常溫半導體元件:LED驅動(dòng)集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
4、高溫及常溫其它元件:印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等阻抗評估
5高溫及常溫介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
6、高溫及常溫磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
7、高溫及常溫半導體材料:半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
二、主要特點(diǎn):
1、高溫及常溫進(jìn)行*材料測試阻抗各參數測試:諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點(diǎn)F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動(dòng)態(tài)電抗R1、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質(zhì)因素Qm、機電耦合系數Keff、Kp、K31、K33等
2、多種探頭滿(mǎn)足壓電陶瓷,液體,及粉末相關(guān)電學(xué)性能測試
3、高溫夾具及常溫測試裝置,設計精巧靈活,測試數據可靠
4、50MHZ高頻阻抗頻率滿(mǎn)足測試需求
5、1000攝氏度高溫條件下測試數據穩定無(wú)漂移,曲線(xiàn)與溫度對應
6、軟件功能豐富,數據即讀取,方便快捷
三、主要技術(shù)參數:
1、頻率范圍:20HZ-50MHZ
2、溫度:室溫-1000℃
3、阻抗參數:諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點(diǎn)F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動(dòng)態(tài)電抗R1、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質(zhì)因素Qm、機電耦合系數Keff、Kp、K31、K33等
4、電極材質(zhì):鉑銥合金(樣品有無(wú)電均可以測試)同軸屏蔽層
5、上電極 直徑1.6mm球頭電極,引線(xiàn)帶同軸屏蔽層
6、下電極: 直徑26.8mm平面電極,引線(xiàn)帶同軸屏蔽層
7、保護電極: 消除寄生電容、邊界電容對測試的影響
8、電極干擾屏蔽: 電極引線(xiàn)帶同軸屏蔽,樣品平臺帶屏蔽罩
9、夾具升降控制: 帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置
10、熱電偶: 雙探頭
11、無(wú)電極樣品尺寸 : 直徑小于40mm,厚度小于8mm
12、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm
13、軟件功能:自動(dòng)分析數據,可以分類(lèi)保存,樣品和測量方案結合在一起,生成系統所需的實(shí)驗方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
14、測量方案 提供靈活、豐富的測試設置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
15、接口方式:包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口,
16、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm
17、凈 重: 22KG