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型號:
RTS-4A型全自動(dòng)掃描四探針測試系統

描述:PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統通過(guò)采用四探針雙位組合測量技術(shù),將范德堡測量方法推廣應用到直線(xiàn)四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進(jìn)行兩次電測量,其最后計算結果能自動(dòng)消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素所引起的,對測量結果的不利影響。因而在測試過(guò)程中,在滿(mǎn)足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動(dòng)態(tài)地對以上不利因素的自動(dòng)修正,

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-27
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    411
詳細介紹
品牌ACE/美國產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域石油,地礦,能源,電子,交通

RTS-4A型全自動(dòng)掃描四探針測試系統

關(guān)鍵詞:全自動(dòng)四探針,2D,3D,多點(diǎn)掃描, 電阻率, 方塊電阻

 

 

 

可對樣品進(jìn)行 49 點(diǎn)、81 點(diǎn)、中心 1 點(diǎn)、中心 10 點(diǎn)、中心半徑 5 點(diǎn)、中心邊緣 5 點(diǎn)、中心半徑邊緣 9 點(diǎn)、直徑掃描等測試;統計分析測試數據生成 2D 和 3D 的 map 圖; 屏蔽測試,消除光對樣品測試的影響,保證測量的準確性;真空吸附防止全自動(dòng)測試過(guò)程中樣品移動(dòng)對測試的影響; 

一體化嵌入式設計,觸控電腦屏幕操作,手指點(diǎn)點(diǎn)就可以完成操作

PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統是運用四探針測量原理的多用途綜合全自動(dòng)測量設備。該設備按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專(zhuān)用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專(zhuān)用設備。通過(guò)全自動(dòng)測試系統,對晶圓片進(jìn)行電阻率和方塊電阻分布的測量,繪制出等值線(xiàn)圖后,從而直接觀(guān)察到整個(gè)晶圓片的電阻率或方塊電阻大小的分布。

PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統通過(guò)采用四探針雙位組合測量技術(shù),將范德堡測量方法推廣應用到直線(xiàn)四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進(jìn)行兩次電測量,其最后計算結果能自動(dòng)消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素所引起的,對測量結果的不利影響。因而在測試過(guò)程中,在滿(mǎn)足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動(dòng)態(tài)地對以上不利因素的自動(dòng)修正,顯著(zhù)降低了其對測試結果的影響,從而提高了測量結果的準確度。

PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統擁有友好操作測試界面,通過(guò)此測試程序輔助用戶(hù)簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項測試操作,把采集到的測試數據進(jìn)行數學(xué)分析,然后把測試數據以Excel表格,2D、3D等數值圖直觀(guān)地記錄、顯示出來(lái)。方便用戶(hù)對數據進(jìn)行各種數據分析,用戶(hù)可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,  

產(chǎn)品應用

● 半導體及太陽(yáng)能電池(單晶硅、多晶硅、鈣鈦礦)

● 液晶面板(ITO/AZO)

● 功能材料(熱電材料、碳納米管、石墨烯、銀納米線(xiàn)、導電纖維布)

● 半導體工藝(金屬層/離子注入/擴散層)、非晶合金

 

全自動(dòng)四探針軟件測試系統

 

 

 

 

主要技術(shù)指標 

 測量范圍 

電阻率:10-5105 ?.cm;  方塊電阻:10-4106 ?/□;   

可測晶片尺寸 

英寸~15 英寸;(太陽(yáng)能電池片≤210mm*210mm 

恒流源 

 電流量程分為 1µA、10µA、100µA、1mA、10mA、100mA 六檔。 

采樣電壓范圍 

 量程:000.00199.99mV;(低阻擴展時(shí),量程:00.00019.999mV) 

分辨力:10μV;(低阻擴展時(shí),分辨力:1μV)輸入阻抗:>1000MΩ;精度:±0.1%; 

四探針探頭基本指標 

 間距:1±0.01mm;針間絕緣電阻:≥1000M?; 機械游移率:≤0.3%;  探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;探針壓力:516 牛頓(總力); 

模擬電阻測量相對

 0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?0.2 

整機測量最大相對

(用硅標樣片:0.003-500Ω.cm 測試)≤±3%23℃) 

重復性 

≤±0.5% 

最小去邊距離 

 3mm

自動(dòng)測試選點(diǎn)方式 

49 點(diǎn)、81 點(diǎn)、中心 點(diǎn)、中心 10 點(diǎn)、中心半徑 點(diǎn)、中心邊緣 點(diǎn)、中心半徑邊緣 點(diǎn)、直徑掃描。 

測試數據處理 

以Excel格式文件表格記錄測試數據,并生成2D、3D的 map 圖。用戶(hù)可對采集的數據在 Excel 中進(jìn)行進(jìn)一步的各種數據統計分析。 

屏蔽和吸附測試 

對樣品進(jìn)行屏蔽和真空吸附測試,消除光和全自動(dòng)測試過(guò)程中樣品移動(dòng)對樣品測試的影響,保證測量的準確性。 

外形尺寸 

550mm×455mm×400mm(深×寬×高) 

標準使用環(huán)境 

 溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65%;無(wú)高頻干擾; 

 


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