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2024-08-27訪(fǎng)問(wèn)量
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詳細介紹
| 品牌 | ACE/美國 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 能源,電子,冶金,航天,電氣 |
熱力發(fā)電是一種通過(guò)熱電效應材料產(chǎn)生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物理學(xué)家在1821年發(fā)現的。面對當前的全球由二氧化碳排放以及化學(xué)材料消耗而導致的溫室效應，熱電轉變器件引起了注意，因為可以有效利用余熱。為了迎合這種急迫的需求公司為這些材料和器件開(kāi)發(fā)了特性評估裝置。
+ 擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；
+ 測量是由計算機控制的，并且能夠在的溫度下執行測量，并允許自動(dòng)測量消除背底電動(dòng)勢；
+ 歐姆接觸自動(dòng)檢測功能（V-I圖）；
+ 可以用適配器來(lái)測量薄膜；
+ 可定制高阻型。
測試原理：
樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過(guò)下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時(shí)將樣品加熱并保持在規定的溫度。塞貝克系數的測量是通過(guò)測量壓在樣品側面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側的同一股線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢dE來(lái)確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過(guò)在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線(xiàn)之間的電壓降dV，并去除引線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢來(lái)確定。
電阻測量系統可實(shí)現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點(diǎn)，塞貝克系數（seebeck）和電阻都可以用一種儀器來(lái)測量。該系統可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。
主要技術(shù)參數：
溫度范圍： 室溫-600℃，800℃ ，1000℃多種范圍可選擇
溫度設定范圍:測溫步數和溫度采樣測量步數：最大125步
測量方法 :溫差電動(dòng)勢：靜態(tài)直流法
電阻率：四電極法
氣氛: 氬氣或氮氣
樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長(cháng)6~22 mm（最大）
導線(xiàn)間距:4，6，8 mm
電源供應:200 VAC，單相，40 A（M8，M10規格）
100 VAC，單相，20 A（L規格，M8和M10規格）
冷卻水需求:自來(lái)水,水壓大于1.5 kgf/cm2,流量大于7 L/min
樣品溫差：MAX.50℃
測量方式：電腦全自動(dòng)測量
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