JWDL-1型金屬電阻率測試儀

關(guān)鍵詞：金屬電阻，導電膜，金屬涂層

JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專(zhuān)業(yè)設備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專(zhuān)門(mén)測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試范圍能夠更好的為你選配四探針測試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時(shí)間長(cháng)。WDL-1型金屬電阻率測試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設備，也是材料生產(chǎn)廠(chǎng)家和科研的重要設備。

一、主要應用領(lǐng)域：

1、硅類(lèi)半導體、金屬、導電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；

2、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻

3、電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測量

4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

二、主要技術(shù)參數：

測量范圍

1、電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

4、電壓量程： 20.00mV～2000mV

5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

6、誤差：±0.1%讀數±2 字

7、材料尺寸：直徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，

         方測試臺直接測試方式180mm×180mm，

         長(cháng)(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,

         測量方位: 軸向、徑向均可

8、探頭類(lèi)型：

9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線(xiàn)探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調

10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線(xiàn)或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調

11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功   耗：<20W

12、外形尺寸：主   機  220mm（長(cháng)）×245 mm（寬）×100mm（高）

       凈   重：≤2.5kg

導電金屬箔材

               金屬                        銅金屬材料

我們專(zhuān)業(yè)提供功能材料測試設備及測試服務(wù)：

一、壓電材料測試裝置：ZJ-3型精密D33測試儀，ZJ-4型寬量程精密D33測試儀，ZJ-5型疊層壓電測試儀，ZJ-6型多功能參數壓電測試儀,GDPT-900A型高溫壓電測試系統,JKZC-YDZK03A型高精度壓電阻抗分析儀，YDH-1型壓電電荷測試儀，YDB-03型壓電陶瓷表面電壓測試儀

二、壓電材料制樣設備：PZT-JH10/4型壓電陶瓷極化裝置，PZT-JH20/1型粉末極化裝置

PZT-JH30/3型壓電陶瓷及薄膜綜合極化裝置，ZJ-D33-YP15型壓片機

三、介電材料測試裝置：GWJDN-600型四通道高溫介電測試儀，GWJDN-1000型四通道高溫介電測試儀

四：鐵電材料測測試儀：ZT-4A鐵電測試儀 ,FE-5000型變溫鐵電測試系統，ECM -150型電卡效應測試系，DCD-100型儲能電介質(zhì)充放電測試系統，

五、BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

高溫功能材料測試設備：

GDPT-900A型高溫D33測試系統，GWJDN-1000型四通道高低溫介電測試儀，HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀，JGWDZ-1000型金屬高溫電阻測量系統，BWGP-2000型變溫光譜測試系統（高低溫光譜系統），FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測量系統，TSDC/TSC--400 型熱激勵去極化電流測量系統，GWTF-300高溫鐵電材料測量系統  ，HTGSRM-1000型高溫氣敏材料測量系統，PTC/NTC-500高溫熱敏電阻材料參數測量分析系統，HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀，PRPM-1000熱釋電系數高溫測試系統，HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統，