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型號:
TSC(TSDC)-5000熱刺激電流測試儀

描述:熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎上發(fā)展起來(lái)的,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準確地測量出某些物質(zhì)(如電介質(zhì)、絕緣材料、半導體、駐極體等)的微觀(guān)參數,熱刺激法是一面對材料升溫一面進(jìn)行測量,即非等溫測量。由于材料(例如介電材料)中的荷電粒子的微觀(guān)參數(如活化能h、松弛時(shí)間τ等)不同,用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開(kāi)來(lái),從而求出各自的參數。因為熱刺激電流與材料的

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-27
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    557
詳細介紹
品牌FLUKE/福祿克應用領(lǐng)域電子,交通,航天,汽車(chē),電氣

TSCTSDC-5000熱刺激電流測試儀

 

                                               

鐵電.jpg


  熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎上發(fā)展起來(lái)的,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準確地測量出某些物質(zhì)(如電介質(zhì)、絕緣材料、半導體、駐極體等)的微觀(guān)參數,熱刺激法是一面對材料升溫一面進(jìn)行測量,即非等溫測量。由于材料(例如介電材料)中的荷電粒子的微觀(guān)參數(如活化能h、松弛時(shí)間τ等)不同,用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開(kāi)來(lái),從而求出各自的參數。因為熱刺激電流與材料的這些參數(如h與τ)密切相關(guān),故它是一種研究介電材料、絕緣材料、半導體材料等的有效手段。tsc是指當樣品受到電場(chǎng)極化后,去掉電場(chǎng),熱激時(shí),樣品從極化態(tài)轉變到平衡態(tài)的過(guò)程中,在外電路中得到的電流,稱(chēng)為熱激退極化電流。

  一個(gè)系統就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的熱激發(fā)極化電流TSDC、電阻和鐵電性能進(jìn)行綜合評價(jià),設備可以遠程接入華測遠程服務(wù)平臺,可針對用戶(hù)應用和要求的硬件升級服務(wù),對用戶(hù)遠程指導及技術(shù)支持。

特點(diǎn):

支持的硬件:

內置或外置的高壓放大器(+/-100V+/-10 kV);

塊體陶瓷樣品夾具;

溫度控制器和溫度腔;

測試功能:

熱釋電測試;

漏電流測試;

疲勞測試;

用戶(hù)定義激勵波形;

TSDC-TSC-2000型熱激勵去極化電流測量系統原理:

 介質(zhì)材料在受熱過(guò)程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流?;痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā),然后施加一個(gè)直流的極化電壓,經(jīng)過(guò)一段時(shí)間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向,隨后立即降溫到低溫,使各類(lèi)極化“凍結",然后以等速率升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜“凍結",然后以等速率升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜。

TSDC/TSC-5000型熱激勵去極化電流測量系統應用:

 廣泛應用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等,通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

主要技術(shù)參數:

極化電壓:±0-10kV(最大電壓)

極化電流: 1 pA ~ 1uA(可擴展),分辨率10 fA;

控溫精度:±0.5

測量精度:0.05%

升降溫速率快:0.01~ 30/min

溫度范圍寬:- 185 ~ 500

升降溫速率快:(0.01 ~ 30)/min

多種獨立變量:溫度、極化電壓、極化時(shí)間、升降溫速率等

多種測量模式:

熱激勵去極化、熱激勵極化、等溫極化時(shí)域、等溫電導率時(shí)域、等溫弛豫譜等

多種測量參數:樣品電流、電流密度、電荷變化、介電常數變化等

通訊:USB接口

 


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