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型號:
GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀

描述:產(chǎn)品簡(jiǎn)介

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀,產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統國產(chǎn)儀器復雜繁瑣的操作界面?;赪indows10操作系統。實(shí)現了全電腦化操作界面。讓測試更智能、更簡(jiǎn)便。

T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類(lèi)儀器只能分析、無(wú)法單獨測試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測和分析兩種界面。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-27
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    468
詳細介紹
品牌Microtrac/拜爾應用領(lǐng)域電子,交通,航天,汽車(chē),電氣

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀

關(guān)鍵詞:彈性常數等C-V ,介電常數,損耗角,電導率,C-特性


GWJDN-100.jpg



產(chǎn)品簡(jiǎn)介

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀,產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統國產(chǎn)儀器復雜繁瑣的操作界面?;?span style="-webkit-tap-highlight-color: transparent; -webkit-appearance: none; margin: 0px;">Windows10操作系統。實(shí)現了全電腦化操作界面。讓測試更智能、更簡(jiǎn)便。

T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類(lèi)儀器只能分析、無(wú)法單獨測試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測和分析兩種界面。讓測試更簡(jiǎn)單。

快達2.5ms的測試速度、及高達100MQ的阻抗測試范圖可以滿(mǎn)足元件與材料的測量基求。特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線(xiàn)電磁耦合的影響。將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀器向下擴展了十倍。

主要性能特點(diǎn)

測試頻率: 10Hz-1 30MHz

高精度:采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù),四端對測試配置

高穩定性和一致性

高速度:最快達2.5ms的測試速度

高分辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800

點(diǎn)測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式

1601點(diǎn)多參數列表掃描功能

四參數測量

自動(dòng)電平控制(ALC) 功能

4通道圖形掃描功能,每通道可顯示4條曲線(xiàn),通道和曲線(xiàn)有14種分屏顯示方式

強大的分選: LCR模式10檔分選

圖形掃描模式每條曲線(xiàn)單獨分選

高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

A.高精度

自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應用,得以在10Hz-1 30MHz頻率、1mQ -100M的阻抗范圍內都能達到理想的測量精度,其中最高精度達0.08%,遠遠高于射頻反射測童法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò )分析儀的精度。

應用

■無(wú)源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。

■半 導體元件:

LED驅動(dòng)集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析

■ 其它元件:

印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等阻抗評估

介質(zhì)材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料:

半導體材料的介電常數、電導率和C-特性

液晶單元:

介電常數、彈性常數等C-V特性

頻率1.jpg

 


B.高穩定性和高一致性

下圖是在速度5、則試頻率1MHz,測量100Ω電阻的曲線(xiàn),由下圖可見(jiàn)其軌跡噪聲≤0.003%(≤±0.0015Ω)

掃描.jpg

C.高速度


D.10. 1時(shí)大屏,四種測里參數,讓細節一覽無(wú)遺

10. 1寸觸摸屏、1280*800分 辨率,Windows10系統 、中英文操作界面,支持鍵盤(pán)、鼠標、LAN、VGA/ HOMI接口,帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來(lái)更多的好處是,可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕,而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂,同時(shí)可以顯示四種測量參數,四種測量參數任意可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數

測試速度1.jpg


E.增強的列表掃描功能

可以最多設置1 601點(diǎn)的列表掃描,每個(gè)點(diǎn)可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

穩1.jpg

F.強大的分析圖形界面

最多通道可以最多顯示4條曲線(xiàn)。通道和曲線(xiàn)各有十四種分屏顯示方法


G.分段掃描功能

最多可以4通道同時(shí)顯示,每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線(xiàn)。通道和曲線(xiàn)各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(gè)掃描周期內,設置不同的頻率分段進(jìn)行掃描,掃描時(shí)可設置不同的電平及偏置,掃描結果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數的掃描需求。

如晶體諧振器需要測試標稱(chēng)諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過(guò)分段掃描共呢個(gè)可在特定頻率范圍內掃描測量,無(wú)需掃描不相關(guān)頻率。

強大分析功能.jpg

H.強大的光標分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力,可以通過(guò)光標實(shí)現如下功能:

1.讀取測量結果的數值(作為絕對數值或者相對于參考點(diǎn)的相對值)

2.查找曲線(xiàn)上的特定點(diǎn)(光標查找)

3.分析曲線(xiàn)測量結果,計算統計數據

4.使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放

TH2851可以在每條曲線(xiàn)上顯示10個(gè)光標,包括了參考光標。

每個(gè)光標有一個(gè)激勵值坐標系x軸對應的數值)和響應值(坐標系Y軸對應的數值)。

光標查找功能允許搜索下列條件測量點(diǎn):最大值、最小值

峰谷值:峰值(極大值)、 谷值(極小值)、 光標左側最近的峰谷值、光標右側最近的峰谷值、多重峰谷值

目標值:距離光標最近的目標值 、光標左側最近的目標值、光標右側最近的目標值、多重目標值

功能2.jpg

G.強大的圖形分析功能

1) 曲線(xiàn)分選功能

可以對掃描曲線(xiàn)全部或者部分區域的測試值進(jìn)行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線(xiàn)刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

功能3.jpg


2)等效電路分析測試

現實(shí)生活中不同類(lèi)型的器件可以械等效成簡(jiǎn)單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件,等效電路3分析則式功能提供了7種基本電路模型用于等效這些器件。

可以通過(guò)仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線(xiàn)與實(shí)際測重的阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行對比,還可以通過(guò)您輸入的參數按照所選擇的摸型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TIT文檔方便用戶(hù)保存使用

強大分析功能.jpg

3)晶體振蕩器分析

對壓電陶瓷等晶體進(jìn)行列量以及性能分析,測重計算后獲取晶體的諧振頻軍、反諧振頻率.品質(zhì)因數等重要參數。

四通道.jpg

4)曲線(xiàn)軌跡對比

曲線(xiàn)軌跡對比用于對被測件進(jìn)行連續測童,所有曲線(xiàn)顯示在同一個(gè)坐標系中。由下列兩種應用:

a)針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線(xiàn)軌跡

設置不同的頻率點(diǎn),計算出所有曲線(xiàn)在該頻率點(diǎn)的測量值

b)針對同一個(gè)被測件

對比同一個(gè)條件下測量的多次測量結果重復性

設置不同頻率點(diǎn),計算出所有曲線(xiàn)在該頻率點(diǎn)的測童值。


功能2.jpg

F.標配附件

 

 

 

 

 


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