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型號:
JKZC-DM系列基礎型探針臺

描述:JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實(shí)驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價(jià)格實(shí)惠,配置靈活,高性?xún)r(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗室科研過(guò)程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類(lèi)器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-27
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    579
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JKZC-DM系列基礎型探針臺

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|產(chǎn)品概要

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實(shí)驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價(jià)格實(shí)惠,配置靈活,性?xún)r(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗室科研過(guò)程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類(lèi)器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

|技術(shù)特點(diǎn)

•整機一體化設計,結構緊湊占地小,可放置于手套箱內使用;

•自適應減震底座設計,可有效過(guò)濾環(huán)境中的震動(dòng)源干擾;

• U型平臺鍍鎳設計,增大針座加載空間的同時(shí)還提高了針座平臺和針座之間的吸附力。

詳細參數


產(chǎn)品型號

技術(shù)參數

JKZC-DM4

JKZC-DM6

JKZC-DM8

探針臺臺體

主體材料

航空鋁

航空鋁

航空鋁

整機尺寸mm)

500L*380W*520H

550L*420W*520H

600L*480W*520H

重量

30kg

35kg

50kg

自適應減震系統

自適應減震底座設計,可有效過(guò)濾環(huán)境中的震動(dòng)源干擾

卡盤(pán)大小

4英寸,360度轉動(dòng),可微調

6英寸,360度轉動(dòng),可微調

8英寸,360度轉動(dòng),可微調

卡盤(pán)XY軸行程

4英寸*4英寸,精度10um

6英寸*6英寸,精度10um

6英寸*6英寸,精度10um

卡盤(pán)Z軸行程

快速升降5mm,微調升降行程6mm,精度丄微米(選件)

卡盤(pán)材質(zhì)

不銹鋼鍍金,具備更小的接觸電阻

卡盤(pán)吸附方式

真空吸附,可選擇環(huán)形吸附或者多孔吸附(適用于薄片)

背電極測試功能

卡盤(pán)鍍金,電學(xué)獨立懸空,帶2個(gè)4mm香蕉頭插口,具備背電極功能

其它功能

帶標準接地保護,可升級

針座平臺

材質(zhì)

U型平臺,Q235鍍療,帶接地端子

大小

最多可放置4個(gè)探針座

最多可放置6個(gè)探針座

最多可放置8個(gè)探針座

7F系統

顯微鏡類(lèi)型

體式顯微鏡/視頻顯微鏡+CCD成像系統

倍率范圍

16X~200X/40X~280X

調焦范圍

50.8mm

顯微鏡移動(dòng)

顯微鏡可繞立柱360度旋轉,帶2英寸高精度顯微鏡調焦機構,帶顯示器支架

CCD成像系統

2k或者4K相機,幀率60fps,帶拍照/錄像/測量功能等功能

探針座

種類(lèi)

絲桿型/微分頭型/經(jīng)濟型探針座

X-Y-Z行程

12.5mm-12.5mm-12.5mm

機械精度

0.5um/0.7um/2um

夾具

漏電精度

同軸夾具10pA/三軸夾具lOOfA

接口形式

同軸/三軸/SMA/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/裸線(xiàn)等接口

其它

選件

屏蔽箱/防震桌/射頻系統/同軸/三軸加熱卡盤(pán)/顯微鏡萬(wàn)向支架等

電力需求

220V/50HZ



搭配產(chǎn)品/半導體參數分析儀我們經(jīng)過(guò)近10年的發(fā)展,在測試儀器與探針臺的搭配方面具備十分 豐富的經(jīng)驗。半導體參數分析儀方面,我們和是德科技(Keysight)、 泰克(Tektronix)、概倫電子(PRIMARIUS)等公司的半導體參數 分析儀有過(guò)多次搭配經(jīng)驗,系列型號有Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并為用戶(hù)提供半導體參數分析 儀與探針臺集成測試方案和服務(wù)。半導體參數分析儀.jpg

搭配產(chǎn)品/矢量網(wǎng)絡(luò )分、析儀依靠與儀器設備廠(chǎng)商和設備集成經(jīng)銷(xiāo)商所保持良好的合作關(guān)系,我司 可為用戶(hù)提供是德科技(Keysight)、中電思儀(Ceyear)等公司的 網(wǎng)絡(luò )分析儀和模塊,有 Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、 Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E 等,各系列型號的矢量網(wǎng)絡(luò ) 分析儀和毫米波網(wǎng)絡(luò )分析儀,涵蓋不同測量頻率范圍、性能和功能,并 為用戶(hù)提供網(wǎng)絡(luò )分析儀與探針臺集成測試方案和服務(wù),具備豐富的測 試經(jīng)驗。、

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搭配產(chǎn)品/其他類(lèi)型源表在其它類(lèi)型源表方面,比如tek 2450, tek 2600, keysight 2900,普賽斯 S300,鐵電分析儀,各類(lèi)示波器,各類(lèi)電源,頻譜儀等等都有多年的搭 配經(jīng)驗。

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