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型號:
非標探針臺/微型/光電流測試顯微鏡

描述:非標探針臺/微型探針臺/倒裝手動(dòng)測試夾具/光電流測試顯微鏡/TEC制冷卡盤(pán)/磁場(chǎng)探針臺(無(wú)磁設計)/110g以上高頻測試探針臺/自動(dòng)測試系統/可升降平臺/高精度納米探針座/毫米級手持式探針夾具/毫米級手持式探針夾具/FA失效分析探針臺

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-27
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    447
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非標探針臺

I (1)微型探針臺

微型探針臺.jpg

•整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg;

•雙探針座平臺鍍鏢設計,提高了針座平臺和針座之間的吸附力;

• ChJKZC-UCk XY微分頭設計,行程25mm*25mm,精度2um;

• ChJKZC-UCk大小2英寸,中心吸附孔和多圈吸附環(huán)固定樣品,均獨立控制;

•卡盤(pán)電學(xué)獨立懸空,帶4mm香蕉頭插口,可以作為背電極使用;

-臺體底板帶高性能防震海綿,可一定程度減小外界震動(dòng)對測試的干擾;

•整機人體工程學(xué)設計,操作簡(jiǎn)單,使用便捷。

| (2)倒裝手動(dòng)測試夾具


倒裝手動(dòng)測試夾具.jpg

-可給樣品加載DC或者RF信號;

樣品可在0~180度任意角度內進(jìn)行旋轉并固定;

-具備微調功能,精度0.1度;

•玻璃樣品載臺,高透光性;

•可無(wú)磁化設計,在光學(xué),電磁等環(huán)境中運用較為廣。

| (3)光電流測試顯微鏡

光電流測試顯微鏡.jpg

-可在原有光路基礎上可以導入另一路光源,用于輻照樣品以測試樣品在特定波長(cháng)及能量下電學(xué)性能;

-顯微鏡設計為雙光路或3光路,其中一路為導入光通路,另一到兩路為成像光路導入光為平行的激光或其它線(xiàn)性光源 ,波長(cháng)范圍200nm~20000nm,中間可加入多個(gè)波片過(guò)濾,起偏及偏振角度無(wú)級360度調節。光斑輻照直徑有650nm紅光 指示。所有模塊均可拉出設計,對導入光性質(zhì)無(wú)影響;

-導入光光路可選擇光時(shí)間開(kāi)關(guān),精確控制導入光的輻照時(shí)間,精度1ms,范圍2ms~oo,在控制界面上可對各種參數進(jìn) 行詳細設置,成像光路為同軸照明金相成像,其中一路為1倍成像,可選擇第2路成像,為物鏡的0.25-10倍率,通常在高 低溫測試系統里會(huì )用到,同一個(gè)物鏡不切換,得到兩個(gè)不同視野的成像。


(4)TEC制冷卡盤(pán)

TEC制冷卡盤(pán).jpg

•釆用TEC制冷,無(wú)需液氮,使用方便;

可給樣品提供不同溫度環(huán)境;

-樣品臺大小可選,防干擾設計,具備良好的接地性能;

溫度范圍:45°C~150°C,溫度分辨率:0.1°C,

溫度穩定性:土 0.3°C;

樣品臺微調升降,行程0-10mm,精度10um.

 (5)磁場(chǎng)探針臺(無(wú)磁設計)

磁場(chǎng)探針臺(無(wú)磁設計).jpg

•在探針臺的基礎上,可加載三維磁場(chǎng),多維磁場(chǎng),磁場(chǎng)強度,精度和間隙均可調整;

-高剛性結構,所有零配件均采用無(wú)磁化材料;

-可加載高低溫,可同時(shí)進(jìn)行DCRF測試;

可以旋轉,科客制化。


|⑹110g以上高頻測試探針臺

110g以上高頻測試探針臺.jpg

 

-可配合市場(chǎng)主流擴頻模塊進(jìn)行超高頻測試;

大行程高精度探針座,X-Y-Z-Theta四軸控制;

-顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內移動(dòng),擴大了顯微鏡視場(chǎng);

-兼容直流與高頻信號;

-可以定制,可升級性強;

-最大可以測試12英寸樣品,探針臺chJKZC-UCk具備升降功能,便于樣品和 探針的快速分離。


(7)自動(dòng)測試系統

自動(dòng)測試系統.jpg

-自動(dòng)探針測試系統,可以與半參,網(wǎng)分聯(lián)動(dòng);

-電動(dòng)二維平臺,可手動(dòng)和電動(dòng)操作;

• ChJKZC-UCk XY軸運動(dòng)行程100*100mm,復定位精度<±lum;

• X-Y軸驅動(dòng):電機+絲桿+光柵尺;

-探針/光纖探針XYZ軸電動(dòng)模塊30*30*30mm,復定位精度W ±lum;

-X-Y-Z軸驅動(dòng):電機+絲桿+光柵尺。

| (8)可升降平臺

可升降平臺.jpg

產(chǎn)品型號:T-station

產(chǎn)品參數:

-尺寸和重量定制;

-單個(gè)探針座平臺最多可同時(shí)放置3個(gè)探針座;

-探針座平臺表面鍍鏢,增大與探針座之間的吸附力;

-隱匿螺紋固定于標準蜂窩板,美觀(guān),并且方便拆卸;

-平臺可升降,升降高度和精度可定制;

-可配合光電流顯微鏡使用。

| (9)高精度納米探針座

高精度納米探針座.jpg

產(chǎn)品型號:JKZC-DCH-20nm

產(chǎn)品參數:

-X軸分辨率20nm,行程30um (旋鈕控制盒);

-YZ軸分辨率10um,行程+-6.5mm;

-釆用高精度壓電陶瓷設計,可以固定步距撥動(dòng)樣品或者納米線(xiàn)。


(10)毫米級手持式探針夾具

產(chǎn)品型號:JKZC-DCH

產(chǎn)品參數

•整體尺寸:20*20*180mm;

-萬(wàn)向調節旋鈕,方向可調,松緊可調;

磁吸底座,直徑20mm;

•兼容彈簧針和晶圓針;

-Cable接頭可定制三軸,同軸或者其它。

(11) FA失效分析探針臺

產(chǎn)品型號:FA

FA失效分析探針臺.jpg

產(chǎn)品參數

•探針臺系統可以選用4~12英寸JKZC-DN系列探針臺。

•激光系統可以選用美國ESI三波段激光器或者法國 quantel激光器

•美國ESI (NEWWAVE)激光器參數

鐳射波長(cháng)1064532nm355nm

輸出功率2.2mJ/pulse

擊打頻率lHz~50Hz

可加工的材質(zhì):Copper/Gold/Poly Silicon/Alu minum/Silicon Dixoide

最小加工尺寸1微米(使用100X物鏡)

         最大加工尺寸40微米(使用50X物鏡)


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