TSDC-400W新款熱刺激電流測量?jì)x

關(guān)鍵詞：熱刺激電流，電壓，TSDC,TSD

一、設備概述：

TSDC-400W新款熱刺激電流測量?jì)x主要適用于在不同溫度下測試材料電阻的試驗測量系統，主要測試材料的電阻溫度變化關(guān)系用于測量聚合物的分子運動(dòng)現象與極化電流的關(guān)系，還可以用來(lái)測試熱電常數和介電常數。符合JIS-K7131測試標準。，是研究材料內部空間電荷受激脫阱后的遷移以及衰減規律、偶極電荷的松弛變化規律、各種電荷之間的相互作用等的重要工具。其在絕緣材料的老化以及擊穿研究、半導體光電材料及其元器件的開(kāi)發(fā)、駐極體材料的研究等領(lǐng)域中得到了廣泛的應用。儀器測試流程自動(dòng)化實(shí)現和完成，并可以保存和導出試驗數據。

二、應用

★材料特征測試
★半導體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學(xué)材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機材料等

★電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試
電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類(lèi)型、光電器件、納米器件、太陽(yáng)能電池、開(kāi)關(guān)、繼電器等

★電子/非電子系統
★離子束、電子束、傳感系統、粒子測量、嵌入式精密儀器等

★半導體和其它器件I-V特性測量

★體電阻/表面電阻率測量

三、產(chǎn)品主要特點(diǎn)：

1、在同一空間內可有 2 條通道

2、最寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍

3、高度準確的 100 µs 脈沖可擴展直流生產(chǎn)測試能力

4、嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

5、消除與 PC 之間耗時(shí)的總線(xiàn)通信

6、高級數據處理和流量控制

7、通用型探頭/處理程序控制

8、系統性能，無(wú)主機

9、TSP-Link® 技術(shù)支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨立受控。

10、支持 <500 ns 通道間同步

11、可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

12、隨著(zhù)測試要求變化輕松重新配置

四、技術(shù)參數：

1、最小電流分辨率：20pA

2、溫度測量范圍：-160°C-600°C

3、升溫速率：0.5℃--10℃/min

4、電壓量程（DC）：10V/50V/100V/250V/500V/1000V

5、樣品架：自動(dòng)升降

6、加熱方式：電熱絲

7、制冷方式：液氮

8、導熱制冷介質(zhì)：二甲基硅油（粘度2CS,容量10L）

9、數據采集：軟件控制，自動(dòng)采集，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示曲線(xiàn)

10、數據保存：可導出EXEXL數據報表，生成電子報告

11、實(shí)驗流程：參數設定后，整個(gè)實(shí)驗過(guò)程無(wú)需人工干預，自動(dòng)完成實(shí)驗

12、測量電極直徑：10MM

13、設備重量：100KG

14、加熱功率：1500W

五、軟件介紹：

起始溫度：試驗開(kāi)始溫度，需要設定，到達此溫度后，開(kāi)始做試驗

截止溫度：試驗結束溫度，需要設定，到此溫度后，自動(dòng)結束

變溫速率：設定升溫速率

保持時(shí)間：到達設定的溫度后，需要保持的時(shí)間

坐標軸切換：以溫度/時(shí)間為坐標軸，進(jìn)行切換

驅動(dòng)電壓：選擇試驗電壓

上升：電極支架上升鍵

下降：電極支架下降鍵

允許外部控制：手動(dòng)在設備上進(jìn)行上升和下降，需要在軟件上進(jìn)行授權