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JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實(shí)現低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動(dòng)控溫,設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室,一方面可以屏蔽無(wú)線(xiàn)電磁干擾,另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結霜。此設備對于一些有溫度需求的測試,尤其是低溫,運用非常廣泛。
JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺,最大可完成12英寸晶圓的正反面點(diǎn)針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試,對晶圓或者PCB板正面和背面同時(shí)扎針以實(shí)現各種 光/電性能測試需求的測試,或背面點(diǎn)針,正面收集光線(xiàn)等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統,穩定的結構,符合人體工程學(xué),以及多項升級功能。
JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實(shí)驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價(jià)格實(shí)惠,配置靈活,高性?xún)r(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗室科研過(guò)程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類(lèi)器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。
GDWT-480型全自動(dòng)型高低溫真空探針臺主要應用于I-V/C-V,PIV測試,傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電子樣品測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,可以配合Keithley,Tektronix等國內外各種源表對材料進(jìn)行測試,可以做材料的介電,鐵電等測試,是目前高等院校和研究所及材料生產(chǎn)單位的重要輔助設備。