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  • JKZC-UC系列高低溫探針臺
    JKZC-UC系列高低溫探針臺

    JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實(shí)現低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動(dòng)控溫,設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室,一方面可以屏蔽無(wú)線(xiàn)電磁干擾,另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結霜。此設備對于一些有溫度需求的測試,尤其是低溫,運用非常廣泛。

    更新時(shí)間:2024-08-27型號:瀏覽量:832
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  • JKZC-DSH系列雙面探針臺
    JKZC-DSH系列雙面探針臺

    JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺,最大可完成12英寸晶圓的正反面點(diǎn)針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試,對晶圓或者PCB板正面和背面同時(shí)扎針以實(shí)現各種 光/電性能測試需求的測試,或背面點(diǎn)針,正面收集光線(xiàn)等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統,穩定的結構,符合人體工程學(xué),以及多項升級功能。

    更新時(shí)間:2024-08-27型號:瀏覽量:855
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  • JKZC-DM系列基礎型探針臺
    JKZC-DM系列基礎型探針臺

    JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實(shí)驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價(jià)格實(shí)惠,配置靈活,高性?xún)r(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗室科研過(guò)程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類(lèi)器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

    更新時(shí)間:2024-08-27型號:瀏覽量:579
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  • SCD-1500型半導體C-V特性分析儀
    SCD-1500型半導體C-V特性分析儀

    SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創(chuàng )新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說(shuō)明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線(xiàn)快速分選、自動(dòng)化集成測試及滿(mǎn)足實(shí)驗室研發(fā)及分析。半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz,VGS電壓可達±40V,足以滿(mǎn)足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。

    更新時(shí)間:2024-08-27型號:瀏覽量:519
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  • WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機
    WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機

    WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機是一款應用于PMMA、PC、PP、COP、COC、BOPET、CBC、樹(shù)脂(部分)、聚乙烯(部分)等硬質(zhì)塑料芯片的鍵合,是硬質(zhì)塑料微流控芯片加工專(zhuān)用設備。 基于MEMS技術(shù)制備的微流控芯片,其表面多種微結構(微通道、微儲液池、微孔等)需要經(jīng)過(guò)鍵合形成密封的微流路才能用于微流控分析。熱壓鍵合的原理是,通過(guò)外部壓力使得工件表面緊密結合,依靠氫鍵形成初步鍵合,當

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  • JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率儀(三環(huán)電極法)
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    JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試儀是一款針專(zhuān)門(mén)用于絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試裝置,采用環(huán)形三電極測試可以勝任于防靜電產(chǎn)品(防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動(dòng)地板等)電阻值的檢測;材料體電阻(率)和表面電阻(率)測量,是目前電阻率及表面電阻測試的重要材料測試設備。 一、主要應用領(lǐng)域: 1、防靜電橡膠電阻率及表面電阻 2、絕緣防靜電塑電阻率及表面電阻

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