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型號：
材料高低溫電阻率測試儀（-160℃-600℃）

描述：HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線(xiàn)電阻法測量原理進(jìn)行設計開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。目前主要針對圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家

  • 更新時(shí)間

    2024-08-27

  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    906
詳細介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域電子,交通,航天,汽車(chē),電氣

HTIM-300型高低溫材料電阻率測試儀


高低溫測試平臺

6517B高阻測試儀


       

2450低阻表

 

 


HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線(xiàn)電阻法測量原理進(jìn)行設計開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。目前主要針對圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsAl、GaAsP，固溶體半導體，如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。

主要應用領(lǐng)域：

半導體材料電阻測試

復合絕緣材料

陶瓷材料

云母

玻璃材料

導電功能薄膜材料

絕緣超材料

硅橡膠材料

PCB材料
一、主要技術(shù)參數：
溫度范圍：-160℃-600℃
升溫斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控溫精度：±0.5℃
電阻測量范圍：0.1mΩ~1MΩ
電阻率測量范圍：100nΩ..cm~100KΩ .cm
測量環(huán)境：惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
測量方法：四線(xiàn)電阻法
測試通道：?jiǎn)瓮ǖ?/span>
樣品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
電極材料：紫銅鍍金 
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
數據存儲格式：TXT文本格式
數據傳輸：USB
符合標準：ASTM
供電：220V±10%，50Hz
工作溫度：5℃ 至 + 40 ℃；
存儲溫度：–40 ℃ 至 +65 ℃
工作濕度：+40 ℃ 時(shí)，相對濕度高達 95%（無(wú)冷凝）
設備尺寸：400x450x580mm
重量：38kg

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