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TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀，即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量，也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量，是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器，對于先進(jìn)材料應用和開(kāi)發(fā)有著(zhù)重要意義。

HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進(jìn)行評估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動(dòng)生

HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進(jìn)行評估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動(dòng)生成

BLDL-1000型高溫金屬熔融電導率測試裝置是一款專(zhuān)門(mén)應用于金屬電導率測量的，它是一種在高溫下測量金屬材料在高溫下熔融的電導率(電阻率）的裝置。熔體的電導率是用雙電極法測量的,是目前研究高溫金屬電導率的重要設備。

GWJDN-1000型高溫介電測量系統高溫介電測量系統應用于高溫環(huán)境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，可以測量帶電極和不帶電極的樣品，通過(guò)配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。是新一代高溫介電測試系統，科研測試裝置，是國家科研院所和高等學(xué)府的設備。

HTIM-1600型1600℃超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實(shí)現了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環(huán)境影響進(jìn)行穩定測量，并且運用在產(chǎn)線(xiàn)中實(shí)現高速測量?？?/p>