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TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀，即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量，也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量，是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器，對于先進(jìn)材料應用和開(kāi)發(fā)有著(zhù)重要意義。

HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進(jìn)行評估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動(dòng)生

HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進(jìn)行評估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動(dòng)生成