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HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專(zhuān)業(yè)材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實(shí)現了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，

HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線(xiàn)電阻法測量原理進(jìn)行設計開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。目前主要針對圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA

HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線(xiàn)電阻法測量原理進(jìn)行設計開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。目前主要針對圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導