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品牌 | Microtrac/拜爾 | 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
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TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀
Thin film variable temperature resistance tester
關(guān)鍵詞:薄膜電阻,電阻率,電導率
TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體(可擴展)的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率,可以用來(lái)分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線(xiàn)、電阻溫阻系數、樣品相變溫度點(diǎn)。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設備。
一、產(chǎn)品特點(diǎn)
1、采用高精度進(jìn)口恒流源與電壓表,確保測試的穩定性和精確性。
2、采用自適應PID控溫。
3、自動(dòng)檢測樣品接觸特征曲線(xiàn)。
4、可在真空或氣氛(惰性氣體)環(huán)境下測量電阻隨溫度變化。
5、可實(shí)現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能
二、主要技術(shù)參數:
1、溫度范圍:-190℃~1000℃(自動(dòng)控溫,可連續采集)
2、電阻測量范圍:1μ?-100M?,準確度:±0.1%FS
3、溫度測量精度:±0.5℃
4、恒流源:0.05μA~1A,準確度:±1%FS(FS為滿(mǎn)量程值)
5、電壓:1μV~300V,準確度:±1%FS(FS為滿(mǎn)量程值)
6、真空度:≤50Pa
7、樣品尺寸:長(cháng) x 寬:(2~5)x(2~5),單位mm,厚度:10nm-3mm
8、測試軟件:可實(shí)現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能。