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型號:
TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀

描述:TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀,即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測量,也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量,是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器,對于先進(jìn)材料應用和開(kāi)發(fā)有著(zhù)重要意義。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間

    2024-10-12
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    21
詳細介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域能源,電子,航天,綜合

TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀

關(guān)鍵詞:薄膜電阻,磁阻,鐵磁/非鐵磁/鐵磁薄膜電阻

TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀,即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測量,也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量,是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器,對于先進(jìn)材料應用和開(kāi)發(fā)有著(zhù)重要意義。

 

TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀

 

一、特點(diǎn):

1.采用專(zhuān)用高精度電阻測試儀和溫度測試儀以及四端測量法減小接觸電阻對測量的影響,測量材料電阻R隨溫度T的變化;

2.采用Helmholtz線(xiàn)圈提供均勻的磁場(chǎng),用它可以產(chǎn)生極微弱的磁場(chǎng)直至數百Gs的磁場(chǎng)。用四端法測量樣品電阻隨溫度的變化,可減小接觸電阻對測量的影響,提高測量精度;

3.采用氮氣保護,可連續測量樣品在150K~600K范圍內電阻隨溫度的變化,可拓展到1800℃;

4.采用流行的USB2.0接口與計算機相連,數據采集迅速準確;

5.用戶(hù)界面直觀(guān)友好,方便用戶(hù)使用。

二、應用:

1.金屬、半導體、導電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測量

2.金屬薄膜材料的電阻率,磁阻的測量(較大厚度0.2mm)

3.金屬塊體材料電阻率的測量(較大厚度3mm)

4.磁性合金薄膜的磁電阻測量

5.鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量

6.自旋閥型巨磁電阻薄膜、隧道結型磁電阻薄膜的磁電阻測量

三、主要技術(shù)參數:

 

型號

TFRT-300A

TFRT-300B

TFRT-300C

溫度范圍

150K~600K

RT~1200 ℃

RT~1800 ℃

磁場(chǎng)

0~1.3T(匹配)

電阻測量范圍

1μΩ~3MΩ,準確度:± 0.1FS

溫度測量精度

熱電阻0.1%±0.1℃;熱電偶0.5%±0.5℃

恒流源

1μA~1A,準確度:± 0.1FS(FS為滿(mǎn)量程值)

供電電源

220 V AC

額定功率

< 2000W

注意事項

溫度和電阻測量范圍等可按需求定制,請咨詢(xún)技術(shù)人員

 

 

 


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