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HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線(xiàn)電阻法測量原理進(jìn)行設計開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。目前主要針對圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導

HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評估測量絕緣材料電學(xué)性能，該系統采用三環(huán)電極法設計原理并結合GB-T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標準設計開(kāi)發(fā)，可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線(xiàn)，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的

PRPM-1000熱釋電系數高溫測試系統 關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類(lèi)輻射計,光譜儀,以及紅外、激光探測器等方面。而熱釋電系數是測定紅外探測器工作特性的主要參數之一。PRPM-1000熱釋電系數高溫測試系統采用高精度進(jìn)口的設備采集分析數據，對熱釋電系數能夠準確的測試.